ECM 기법을 측정하면서 환경을 정확하게 시뮬레이션

텍트로닉스는 군 및 정부 직원이 현장 작업을 하다가 노출된 물리적/전자기적 환경을 정확하게 재현할 통합 측정 도구를 제공하는 데 선두적인 역할을 맡고 있습니다.

요즘에는 기타 이미터(emitter), 잼머(jammer), 간섭(interfere) 요인 등의 전자기 스펙트럼에 포함된 동적 정체 문제를 파악하려면 현장의 환경을 정확히 시뮬레이션하여 전자 보호 시스템을

완전히 테스트할 수 있는 충실도 높은 기기가 필요합니다. 이를 통해 군에서는 실질적인 위협을 감지해서 미연에 방지할 수 있습니다.

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물리적 및 전자기 환경 효과를 정확히 복제

실험실 성능이 현장의 성능을 정확히 반영할 수는 없습니다. 이러한 이유로 실험실이나 쳄버에서 진행되는 시스템 개발 테스트 및 기술 개발 과정에 키 퍼포먼스 파라미터를 검증할 수 있도록

파형 시나리오 발생에 대기 및 전자파 효과를 추가해야 하는 것입니다. 텍트로닉스는 높은 충실도의 임의 파형 발생기와 강력한 소프트웨어를 결합함으로써 다중 경로 발생, 높은 펄스 밀도 환경,

비/안개/기타 전자파 효과의 감쇠 제어를 보장합니다.

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텍트로닉스는 높은 정밀도로 다음을 복제하는 내구성이 높은 장비를 제공합니다.

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• 물리적 위치 효과
• 물리적 대기 효과(비, 안개, 황사)
• 전자파 효과(클러터, 다중 경로)

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​실시간으로 ECM 기술을 검증하기 위한 다중 도메인 가시성

개발 테스트 이벤트 및 쳄버 시간에는 많은 비용이 소요될 수 있습니다. 따라서 초기에 데이터를 올바르게 캡처하는 것이 중요합니다.

실시간 상황 인식 능력으로 테스트 이벤트를 중단하지 않고도 보호 대책 기술을 검증할 수 있으며, 시간 및 주파수 도메인 둘 모두의 기술 변이를 보장하기 위해 고해상도 캡처가 필요합니다.

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이러한 모든 작업은 RSA 스펙트럼 분석기를 통해 사용 가능한 정밀 도구로 수행할 수 있습니다. 텍트로닉스의 폼팩터 RSA로 다음 작업도 수행할 수 있습니다.

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• 최대한 정밀하게 실물과 똑같은 라디오 신호 재현
• 복잡한 신호 환경 구축

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주요 콘텐츠

전자 보호 대책 검증 기술

고급 레이더 분석

DPX 기본 사항

웹 세미나

백서

팩트 시트

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이 웨비나에서는 ECM 성능 검증을 위한 접근 방법을

검토합니다. 웨비나를 통해 실시간 스펙트럼 분석을 사용하여

​위협 자극의 진정한 RF 신호를 검색하고 ECM 기술을 확인

​할 수 있습니다. 그리고 시간 도메인 및 주파수 도메인 둘

모두에서 조정된 기술을 동시에 확인하는 방법을 배울 수

있습니다.

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​레이더 기술이 빠르게 발전할수록 레이더 신호를 탐지할

매우 전문적이고 혁신적인 전자 제품을 개발하고 제조해야

​합니다. 설계 프로세스 동안 불확실성을 줄이고 기밀성을

​높여야 합니다. 이 애플리케이션 노트는 최신 레이더 응용

사례를 처리하는 데 필요한 도구를 자세히 설명합니다.

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​완전 작동 DPX 스펙트럼의 실시간 RF 디스플레이는

이전에는 볼 수 없었던 신호를 표시하므로 즉각적으로

​신호를 감지하고 훨씬 더 빠르게 검색 및 진단할 수

있습니다. 이 입문서를 통해 DPX에 대해 자세히

​알아보십시오.

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복잡한 RF 신호 생성

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​더 높은 정확도 및

충실도로 테스트

실시간으로 ECM 기술 검증

 AWG5200

 AWG70000

 RSA5000 시리즈

동급 대비 최고의 샘플링 속도 및 메모리 용량과 함께

​뛰어난 신호 충실도를 제공하여 복잡한 RF 베이스밴드

신호 발생 및 정밀한 실험 애플리케이션을 위한 업계

최고의 신호 자극 솔루션을 제공합니다.

혁신적인 테스트 장비는 설계 프로세스에서 테스트의

​불확실성을 줄여주고 점점 복잡해지는 설계의 무결성을

확실하게 제공합니다. 업계 최고 수준의 AWG70000

시리즈는 성능, 샘플링 속도, 신호 충실도, 파형 메모리

​측면에서 가장 최첨단 기능을 제공하는 장비입니다.

고감도의 뛰어난 스위프 속도로 단 22초 만에

-110dBm/Hz의 노이즈 층으로 10GHz 범위의 스위프를

완료할 수 있으며 RSA5000 시리즈를 사용하여 여러 추적,

마커 및 표준 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다.

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• 최대 10GS/s의 샘플링 속도(2배 보간)
• 2, 4, 8채널 구성
• -70dBc의 스퓨리어스 없는 동적 범위
• 16비트 수직 해상도
• 채널당 2G 샘플 파형 메모리

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• 최대 50GS/s인 샘플링 속도
• -80dBc의 스퓨리어스 없는 동적 범위
• 10비트 수직 해상도
• 16G 샘플 파형 메모리

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​• 2GHz에서 +17dBm 3차 가로채기
• 3GHz에 대해 ±0.3dB 절대 진폭 정확도
• 위 상 노이즈: 1GHz에서 –113dBc/Hz, 10MHz 캐리어

  주파수에서 –134dBc/Hz(10kHz 오프셋)
• 고해상도 및 낮은 노이즈를 나타내는 고속 스윕

   : 10kHz RBW에서 1GHz 스윕
• 80dB의 실시간 스퓨리어스 없는 동적 범위(HD 옵션 사용)

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​복잡한 변조 체계를

쉽게 생성

SourceXpress

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신호 손상을 시뮬레이션하여 시스템의 스트레스 테스트를

​수행하고 환경적 스트레스를 추가하는 작업은 복제, 처리

또는 교정하기가 어려울 수 있습니다. SourceXpress를

​사용하면 복잡한 변조 체계를 쉽게 생성하여 Tx 모듈 및

​시스템 성능을 표시할 수 있습니다.

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• S-파라미터를 사용하여 Tx 섹션에서 하위 시스템을

  ​모델링할 수 있음
• 임의 파형 발생기 출력의 사전 보상으로 손실 보정
• SourceXpress 스코프 및 SignalVu VSA(최대 70GHz)를

  사용하여 Tx 출력을 직접 평가할 수 있음

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